YL-885 3D锡膏测厚仪 技术参数 设备特点: 1、 多角度、多周期结构光与 Z 轴仿形装置。 2、 基于GPU运算的PMP算法 3、 友好的多点触屏界面 4、 **的* Gerber 读取软件 主要规格: 检查原理 白光干涉相位移法 检查项目 体积、面积、高度、XY位置、形状 不良种类 多锡、少锡、漏印、桥连、偏移、异型、污点 工业相机 4百万相素 高解析0.015mm; 高速度0.030mm 灯源 红/蓝/白 X/Y分辨率 18微米 检测速度 视野/0.3秒(视野:40*30mm) 高度检测范围 0-550μm Z轴分辨率 0.3微米 高度精度 <1μm 测量重复性 <1% at 3西格玛 Gage R&R <10% PCB尺寸 50*50-330*250mm 可适应PCB厚度 0.3-4.7mm PCB下净高 40mm PCB流向 左至右 OR 右至左 PCB弯曲 ±7mm PCB搬送高度 900+/-20mm 夹板边距 3mm 操作系统 WINDOWS XP Professinal Gerber格式 Gerber Data 274D/274X 操作方式 触摸屏操控 SPC统计管理 Histogram, Xbar&R Chart, Cp&Cpk, % Gage R&R Data, SPC daily/weekly/monthly Reports; 选配 条码识别器,UPS,离线编程器,维修站,校正块,SPC数据库 机身尺寸 W1063*D1236*H1713mm 机身重量 约1200KG